1.应用领域

本装置主要应用于半导体温差发电领域，评价热电元件在不同温差下的发电性能，元件的开路电压、短路电流、内阻、及最大发电功率，同时可评价元件在使用工况下的稳定性。

2.技术特点

(1)采用自主设计的样品测试台可评价单元件(P型或N型)，P、N元件对称布置或单侧布置同步测试

(2)采用自主开发的软件实现热源温度控制和I-V性能测试，能够评价热电元件在恒温热持久和高低温热循环工况下的老化性能。

3.性能指标

(1)元件尺寸范围：2x2～8x8mm 。

(2)测试温度：室温～800℃。

(3) 真空可惰性气氛。

4.当前状态

(1)目前国内尚无相关商品化设备，本实验室搭建了两台测试设备，单样品单次测试时间超过5000小时，运行稳定可靠。

(2)编写了企业标准，尚未发布。